Electrical characterization of Random Telegraph Noise in back-biased Ultrathin Silicon-On-Insulator MOSFETs
- Marquez, C.
- Rodriguez, N.
- Gamiz, F.
- Ohata, A.
Actas:
2016 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon, EUROSOI-ULIS 2016
ISBN: 9781467386098
Año de publicación: 2016
Páginas: 40-43
Tipo: Aportación congreso