New short and efficient algorithm for testing random-access memories

  1. Azimane, M.
  2. Ruiz, A.L.
Actes:
Proceedings of the IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems

ISBN: 0780350081

Any de publicació: 1998

Volum: 1

Pàgines: 541-544

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1109/ICECS.1998.813380 GOOGLE SCHOLAR

Objectius de Desenvolupament Sostenible

Font de les dades: Scopus