Spatial threshold exceedance analysis through marked point processes
- Madrid, A.E.
- Angulo, J.M.
- Mateu, J.
ISSN: 1180-4009, 1099-095X
Año de publicación: 2012
Volumen: 23
Número: 1
Páginas: 108-118
Tipo: Artículo
Revista:
Environmetrics