Divergence analysis of atomic ionization processes and isoelectronic series
- López-Rosa, S.
- Antolín, J.
- Angulo, J.C.
- Esquivel, R.O.
ISSN: 1050-2947, 1094-1622
Año de publicación: 2009
Volumen: 80
Número: 1
Tipo: Artículo
ISSN: 1050-2947, 1094-1622
Año de publicación: 2009
Volumen: 80
Número: 1
Tipo: Artículo