Near field pattern uniformity for high resolution magnetic resonance imaging systems based on metaheuristic optimization

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Revista:
International Journal of RF and Microwave Computer-Aided Engineering

ISSN: 1099-047X,  1096-4290

Año de publicación: 2020

Volumen: 30

Número: 3

Tipo: Artículo

DOI: 10.1002/MMCE.22090 GOOGLE SCHOLAR
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