Aplicación de la técnica de microscopia electrónica de barrido de emisión de campo con haz de iones focalizado-microanálisis de rayos x a colecciones numismáticas
- Carla Álvarez Romero 1
- María Teresa Doménech Carbó 1
- 1 Universitat Politècnica de València. Instituto Universitario de Restauración del Patrimonio
ISSN: 2445-1150
Año de publicación: 2016
Número: 11-12
Páginas: 65-70
Tipo: Artículo
Otras publicaciones en: Arché
Resumen
Los objetos metálicos, y en particular, las colecciones numismáticas, han sido el objeto de estudio de numerosas investigaciones arqueométricas centradas en el conocimiento de las sociedades del pasado, ya que de éstos es posible obtener una gran cantidad de información relativa a los usos y desarrollo tecnológico de esas civilizaciones a través de su procedencia, el proceso de manufactura o las materias primas empleadas. Las técnicas de análisis aplicadas para este fin han ido evolucionando con el tiempo, de forma que, actualmente, además del estudio metalográfico, se dispone de un amplio abanico de técnicas instrumentales que proporcionan información acerca de la composición, estructura y morfología del objeto metálico. En este trabajo se ha explorado las posibilidades de un nuevo método de análisis de colecciones numismáticas basado en el uso del Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo con Haz de Iones Focalizado y Microanálisis de Rayos X (FESEM-FIB-EDX). Entre las ventajas que ofrece esta técnica, aplicada por primera vez en el estudio de objetos de metal arqueológico, está su carácter mínimamente invasivo para las piezas ya que no requiere toma de muestra y la alteración producida en el objeto se sitúa en la escala nanoscópica.
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