On the thermal models for resistive random access memory circuit simulation

  1. Roldán, J.B.
  2. González-Cordero, G.
  3. Picos, R.
  4. Miranda, E.
  5. Palumbo, F.
  6. Jiménez-Molinos, F.
  7. Moreno, E.
  8. Maldonado, D.
  9. Baldomá, S.B.
  10. Chawa, M.M.A.
  11. de Benito, C.
  12. Stavrinides, S.G.
  13. Suñé, J.
  14. Chua, L.O.
Revista:
Nanomaterials

ISSN: 2079-4991

Any de publicació: 2021

Volum: 11

Número: 5

Tipus: Revisió

DOI: 10.3390/NANO11051261 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccés obert editor

Objectius de Desenvolupament Sostenible

Font de les dades: Scopus