Parallel test pattern generation using circuit partitioning in a shared-memory multiprocessor
- Gil, C.
- Ortega, J.
- Bernier, J.L.
- Gil, M.D.
ISSN: 1611-3349, 0302-9743
ISBN: 9783540654148
Datum der Publikation: 1998
Ausgabe: 1541
Seiten: 167-171
Art: Konferenz-Beitrag