Influencia de la concentración de centros profundos en las propiedades electricas de uniones p-n no abruptas. Aplicacion al sistema sipt

  1. JIMENEZ TEJADA JUAN ANTONIO
Supervised by:
  1. Juan Enrique Carceller Beltrán Director

Defence university: Universidad de Granada

Year of defence: 1992

Committee:
  1. Pedro Cartujo Estebanez Chair
  2. Juan Antonio López Villanueva Secretary
  3. Luis A. Bailón Vega Committee member
  4. Juan Barbolla Sánchez Committee member
  5. Daniel Pardo Collantes Committee member
Department:
  1. ELECTRÓNICA Y TECNOLOGÍA DE COMPUTADORES

Type: Thesis

Abstract

Se han estudiado uniones graduales impurificadas con platino (difundido en un rango de temperatura 860 grados c-920 grados c). La espectroscopia de transitorios de niveles profundos, dlts, junto con un estudio teorico han permitido determinar el efecto de elegir un modelo apropiado para una estructura p-n y comprobar el efecto de altas concentraciones de centros profundos en este tipo de uniones. Bajo ciertas condiciones el modelo de union abrupta no permite explicar resultados procedentes de medidas capacitivas asi como puede resultar incorrecta la interpretacion normal de asociar cada maximo de dlts con un nivel de energia. Sin embargo, el modelo de una union gradual con dos niveles profundos, como en el caso del platino, si interpreta todos los resultados. Ademas, toda la caracterizacion experimental y numerica sobre el platino en el silicio realizada a lo largo de este trabajo, nos indica que el platino en el silicio crea un centro tripolar.