TESEOalgoritmo eficiente para la generación algebraica de patrones de test

  1. Pérez Trabado, Pablo
  2. Ortega Lopera, Julio
  3. Lloris Ruiz, Antonio
Llibre:
Diseño de circuitos integrados: actas del VI Congreso. Santander, 11/15 de noviembre de 1991

Editorial: Universidad de Cantabria

ISBN: 84-87412-61-0

Any de publicació: 1991

Pàgines: 459-464

Congrés: Congreso de Diseño de Circuitos Integrados (6. 1991. Santander)

Tipus: Aportació congrés

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Resum

En esta comunicación se representa un algoritmo de generación de patrones de test para faltas de anclaje ("stuck-at") en circuitos combinacionales, obtenidos por solución de ecuaciones booleanas. Se incluyen reglas detalladas para la construcción de las ecuaciones, y para el uso de los puntos de fan-out en la simplificación del procedimiento.

Fuente de los datos: Dialnet