Diagnóstico de fallos mediante clasificadoresanálisis de robustez en ambientes de incertidumbre
- J.M. Bernal-de Lázaro 1
- O. Llanes-Santiago 1
- A. Prieto-Moreno 1
- A. Silva-Neto 2
- C. Cruz Corona 3
-
1
Universidad Tecnológica de La Habana José Antonio Echeverría
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Universidad Tecnológica de La Habana José Antonio Echeverría
La Habana, Cuba
- 2 Instituto Politécnico do Rio de Janeiro
-
3
Universidad de Granada
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- FRANCISCO HERRERA (coord.)
- Alicia Troncoso (coord.)
- Sergio Damas Arroyo (coord.)
Verlag: Asociación Española para la Inteligencia Artificial (AEPIA)
ISBN: 3-030-00374-4, 978-84-09-05643-9
Datum der Publikation: 2018
Seiten: 849-854
Kongress: Conferencia de la Asociación Española para la Inteligencia Artificial (18. 2018. Granada)
Art: Konferenz-Beitrag