Effects of oxygen-related traps in silicon on the generation-recombination noise

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Actas:
AIP Conference Proceedings

ISSN: 0094-243X,  1551-7616

ISBN: 9780735402676

Año de publicación: 2005

Volumen: 780

Páginas: 717-720

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1063/1.2036851 GOOGLE SCHOLAR
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