Simple analytical valence band structure including warping and non-parabolicity to investigate hole transport in Si and Ge

  1. Rodríguez-Bolivar, S.
  2. Gömez-Campos, F.M.
  3. Carceller, J.E.
Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Año de publicación: 2005

Volumen: 20

Número: 1

Páginas: 16-22

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0268-1242/20/1/003 GOOGLE SCHOLAR
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