Image and exchange-correlation effects in double gate silicon-on-insulator transistors

  1. Gámiz, F.
  2. Cartujo-Cassinello, P.
  3. Jiménez-Molinos, F.
  4. Carceller, J.E.
  5. Cartujo, P.
Revista:
Microelectronic Engineering

ISSN: 0167-9317

Año de publicación: 2004

Volumen: 72

Número: 1-4

Páginas: 374-378

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1016/J.MEE.2004.01.017 GOOGLE SCHOLAR
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