Electron transport in ultrathin double-gate SOI devices

  1. Gámiz, F.
  2. Roldán, J.B.
  3. López-Villanueva, J.A.
  4. Jiménez-Molinos, F.
  5. Carceller, J.E.
Zeitschrift:
Microelectronic Engineering

ISSN: 0167-9317

Datum der Publikation: 2001

Ausgabe: 59

Nummer: 1-4

Seiten: 423-427

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1016/S0167-9317(01)00635-9 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus