Experimental determination of the effective mobility in NMOSFETs: a comparative study

  1. Banqueri, J.
  2. López-Villanueva, J.A.
  3. Cartujo-Cassinello, P.
  4. Rodríguez, S.
  5. Carceller, J.E.
Revista:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Año de publicación: 1999

Volumen: 43

Número: 4

Páginas: 701-707

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/S0038-1101(98)00307-4 GOOGLE SCHOLAR
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