Study of the effects of a stepped doping profile in short-channel mosfet's

  1. López-Villanueva, J.A.
  2. Gámiz, F.
  3. Roldán, J.B.
  4. Ghailan, Y.
  5. Carceller, J.E.
  6. Cartujo, P.
Revista:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Año de publicación: 1997

Volumen: 44

Número: 9

Páginas: 1425-1431

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/16.622597 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus