Electron velocity saturation in quantized silicon carbide inversion layers

  1. Gámiz, F.
  2. Roldán, J.B.
  3. López-Villanueva, J.A.
  4. Carceller, J.E.
Revista:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Año de publicación: 1996

Volumen: 69

Número: 15

Páginas: 2219-2221

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.117171 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus