Oxide charge space correlation in inversion layers. II. Three-dimensional oxide charge distribution

  1. Gamiz, F.
  2. Lopez-Villanueva, J.A.
  3. Banqueri, J.
  4. Ghailan, Y.
  5. Carceller, J.E.
Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Año de publicación: 1995

Volumen: 10

Número: 5

Páginas: 592-600

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0268-1242/10/5/004 GOOGLE SCHOLAR
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