Universality of electron mobility curves in MOSFETs: a Monte Carlo study

  1. Gamiz, F.
  2. Lopez-Villanueva, J.A.
  3. Banqueri, J.
  4. Carceller, J.E.
  5. Cartujo, P.
Revista:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Año de publicación: 1995

Volumen: 42

Número: 2

Páginas: 258-265

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/16.370071 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus