Influence of the Oxide-Charge Distribution Profile on Electron Mobility in MOSFET's

  1. Gámiz, F.
  2. López-Villanueva, J.A.
  3. Banqueri, J.
  4. Carceller, J.E.
Revista:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 1557-9646,  0018-9383

Año de publicación: 1995

Volumen: 42

Número: 5

Páginas: 999-1004

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/16.381999 GOOGLE SCHOLAR
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