Importance of the choice of the profile model for a p-n junction in the location of deep levels

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Revista:
Journal of Electronic Materials

ISSN: 0361-5235 1543-186X

Año de publicación: 1992

Volumen: 21

Número: 9

Páginas: 883-886

Tipo: Artículo

DOI: 10.1007/BF02665544 GOOGLE SCHOLAR