Analysis of a reverse-biased linearly graded junction with high concentration of deep impurities

  1. Lopez-Villanueva, J.A.
  2. Jimenez-Tejada, J.A.
  3. Cartujo, P.
  4. Morante, J.R.
  5. Carceller, J.E.
Revista:
Solid State Electronics

ISSN: 0038-1101

Año de publicación: 1990

Volumen: 33

Número: 7

Páginas: 805-811

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/0038-1101(90)90059-N GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus