Systematic characterization of random telegraph noise and its dependence with magnetic fields in MOSFET devices

  1. Marquez, C.
  2. Huerta, O.
  3. Tec-Chim, A.I.
  4. Guarin, F.
  5. Gutierrez-D, E.A.
  6. Gamiz, F.
Libro:
Noise in Nanoscale Semiconductor Devices

ISBN: 9783030374990

Año de publicación: 2020

Páginas: 135-174

Tipo: Capítulo de Libro

DOI: 10.1007/978-3-030-37500-3_4 GOOGLE SCHOLAR
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