Simulation based DC and dynamic behaviour characterization of Z2FET

  1. Adamu-Lema, F.
  2. Duan, M.
  3. Navaro, C.
  4. Georgiev, V.
  5. Cheng, B.
  6. Wang, X.
  7. Millar, C.
  8. Gamiz, F.
  9. Asenov, A.
Konferenzberichte:
International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, SISPAD

ISBN: 9784863486102

Datum der Publikation: 2017

Ausgabe: 2017-September

Seiten: 317-320

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.23919/SISPAD.2017.8085328 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus