Three-dimensional multi-subband simulation of scaled FinFETs

  1. Donetti, L.
  2. Sampedro, C.
  3. Ruiz, F.G.
  4. Godoy, A.
  5. Gamiz, F.
Konferenzberichte:
European Solid-State Device Research Conference

ISSN: 1930-8876

ISBN: 9781509059782

Datum der Publikation: 2017

Seiten: 180-183

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1109/ESSDERC.2017.8066621 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus