Characterization of semiconductor structures using scanning microwave microscopy technique
- Bagdad, B.A.
- Gamiz, F.
Actas:
Joint International EUROSOl Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon-ULIS, EUROSOI-ULIS 2017 - Proceedings
ISBN: 9781509053131
Año de publicación: 2017
Páginas: 200-203
Tipo: Aportación congreso