Quantum Mechanical Confinement in the Fin Electron-Hole Bilayer Tunnel Field-Effect Transistor
- Padilla, J.L.
- Alper, C.
- Gámiz, F.
- Ionescu, A.M.
ISSN: 0018-9383
Argitalpen urtea: 2016
Alea: 63
Zenbakia: 8
Orrialdeak: 3320-3326
Mota: Artikulua
ISSN: 0018-9383
Argitalpen urtea: 2016
Alea: 63
Zenbakia: 8
Orrialdeak: 3320-3326
Mota: Artikulua