Threshold voltage and on-current Variability related to interface traps spatial distribution

  1. Velayudhan, V.
  2. Martin-Martinez, J.
  3. Porti, M.
  4. Couso, C.
  5. Rodriguez, R.
  6. Nafria, M.
  7. Aymerich, X.
  8. Marquez, C.
  9. Gamiz, F.
Actes:
European Solid-State Device Research Conference

ISSN: 1930-8876

ISBN: 9781467371339

Any de publicació: 2015

Volum: 2015-November

Pàgines: 230-233

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1109/ESSDERC.2015.7324756 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus