Sub-22nm scaling of UTB2SOI devices for Multi-Vt applications

  1. Diaz-Llorente, C.
  2. Medina-Bailon, C.
  3. Sampedro, C.
  4. Gamiz, F.
  5. Godoy, A.
  6. Donetti, L.
Actes:
EUROSOI-ULIS 2015 - 2015 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon

ISBN: 9781479969111

Any de publicació: 2015

Pàgines: 281-284

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1109/ULIS.2015.7063828 GOOGLE SCHOLAR

Objectius de Desenvolupament Sostenible

Font de les dades: Scopus