Mobility and capacitance comparison in scaled InGaAs versus Si trigate MOSFETs

  1. Marin, E.G.
  2. Ruiz, F.G.
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  4. Tienda-Luna, I.M.
  5. Gámiz, F.
Revista:
IEEE Electron Device Letters

ISSN: 0741-3106

Año de publicación: 2015

Volumen: 36

Número: 2

Páginas: 114-116

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/LED.2014.2380434 GOOGLE SCHOLAR
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