An in-depth simulation study of thermal reset transitions in resistive switching memories

  1. Villena, M.A.
  2. Jiménez-Molinos, F.
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  7. Gámiz, F.
  8. Liu, M.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Año de publicación: 2013

Volumen: 114

Número: 14

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.4824292 GOOGLE SCHOLAR

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