An in-depth simulation study of thermal reset transitions in resistive switching memories
- Villena, M.A.
- Jiménez-Molinos, F.
- Roldán, J.B.
- Suñé, J.
- Long, S.
- Lian, X.
- Gámiz, F.
- Liu, M.
Revista:
Journal of Applied Physics
ISSN: 0021-8979
Año de publicación: 2013
Volumen: 114
Número: 14
Tipo: Artículo