Ab initio validation of continuum models for Si/SiO2 interfaces

  1. Biel, B.
  2. Donetti, L.
  3. Godoy, A.
  4. Gamiz, F.J.
Actas:
ULIS 2013: The 14th International Conference on Ultimate Integration on Silicon, Incorporating the 'Technology Briefing Day'

ISBN: 9781467348003

Año de publicación: 2013

Páginas: 165-168

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/ULIS.2013.6523509 GOOGLE SCHOLAR
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