Bias-engineered mobility in advanced FD-SOI MOSFETs

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Zeitschrift:
IEEE Electron Device Letters

ISSN: 0741-3106

Datum der Publikation: 2013

Ausgabe: 34

Nummer: 7

Seiten: 840-842

Art: Artikel

DOI: 10.1109/LED.2013.2264045 GOOGLE SCHOLAR

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