A new characterization technique for SOI wafers: Split C(V) in pseudo-MOSFET configuration

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Revista:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Año de publicación: 2013

Volumen: 90

Páginas: 127-133

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.SSE.2013.02.041 GOOGLE SCHOLAR
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