Multibranch mobility characterization: Evidence of carrier mobility enhancement by back-gate biasing in FD-SOI MOSFET

  1. Navarro, C.
  2. Rodriguez, N.
  3. Donetti, L.
  4. Oliata, A.
  5. Gamiz, F.
  6. Andrieu, F.
  7. Faynot, O.
  8. Fenouillet-Berangerand, C.
  9. Cristoloveanu, S.
Actes:
European Solid-State Device Research Conference

ISSN: 1930-8876

ISBN: 9781467317078

Any de publicació: 2012

Pàgines: 209-212

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1109/ESSDERC.2012.6343370 GOOGLE SCHOLAR

Objetivos de desarrollo sostenible

Font de les dades: Scopus