Impact of effective capacitance area on the characterization of SOI Wafers by Split-C(V) in Pseudo-MOSFET configuration
- Fernandez, C.
- Diab, A.
- Rodriguez, N.
- Ohata, A.
- Allibert, F.
- Ionica, I.
- Gamiz, F.
- Cristoloveanu, S.
Actas:
IEEE 2012 International Semiconductor Conference Dresden-Grenoble, ISCDG 2012
ISBN: 9781467317177
Año de publicación: 2012
Páginas: 123-126
Tipo: Aportación congreso