Multibranch mobility analysis for the characterization of FDSOI transistors

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Revista:
IEEE Electron Device Letters

ISSN: 0741-3106

Ano de publicación: 2012

Volume: 33

Número: 8

Páxinas: 1102-1104

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/LED.2012.2198193 GOOGLE SCHOLAR

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