Properties of 22nm node extremely-thin-SOI MOSFETs

  1. Rodriguez, N.
  2. Andrieu, F.
  3. Navarro, C.
  4. Faynot, O.
  5. Gamiz, F.
  6. Cristoloveanu, S.
Actas:
Proceedings - IEEE International SOI Conference

ISSN: 1078-621X

ISBN: 9781612847597

Año de publicación: 2011

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/SOI.2011.6081681 GOOGLE SCHOLAR
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