Revisited pseudo-MOSFET models for the characterization of ultrathin SOI wafers

  1. Rodriguez, N.
  2. Cristoloveanu, S.
  3. Gamiz, F.
Revista:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Año de publicación: 2009

Volumen: 56

Número: 7

Páginas: 1507-1515

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TED.2009.2021715 GOOGLE SCHOLAR
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