A comprehensive study of the corner effects in Pi-gate SOI MOSFETs

  1. Ruiz, F.G.
  2. Godoy, A.
  3. Gámiz, F.
  4. Sampedro, C.
  5. Donetti, L.
Konferenzberichte:
ECS Transactions

ISSN: 1938-5862,  1938-6737

ISBN: 9781566775533

Datum der Publikation: 2007

Ausgabe: 6

Nummer: 4

Seiten: 363-368

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1149/1.2728883 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus