Ballisticity at very low drain bias in DG SOI nano-MOSFETs

  1. Sampedro, C.
  2. Gámiz, F.
  3. Godoy, A.
  4. Cristoloveanu, S.
Actas:
2007 International Semiconductor Device Research Symposium, ISDRS

ISBN: 9781424418916

Año de publicación: 2007

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/ISDRS.2007.4422322 GOOGLE SCHOLAR
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