Characterization of electron transport at high fields in silicon-on-insulator devices: A Monte Carlo study

  1. Roldán, J.B.
  2. Gámiz, F.
  3. Roldán, A.
  4. Rodríguez, N.
Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242,  1361-6641

Año de publicación: 2006

Volumen: 21

Número: 1

Páginas: 81-86

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0268-1242/21/1/015 GOOGLE SCHOLAR
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