Electron transport in silicon inversion slabs of nanometric thickness

  1. Gámiz, F.
  2. Roldán, J.B.
  3. Godoy, A.
  4. Sampedro, C.
Actas:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

Año de publicación: 2005

Volumen: 5838

Páginas: 199-207

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1117/12.608239 GOOGLE SCHOLAR
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