Remote Coulomb scattering in metal-oxide-semiconductor field effect transistors: Screening by electrons in the gate

  1. Gámiz, F.
  2. Fischetti, M.V.
Revista:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Año de publicación: 2003

Volumen: 83

Número: 23

Páginas: 4848-4850

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.1630169 GOOGLE SCHOLAR
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