Scattering of electrons in silicon inversion layers by remote surface roughness

  1. Gámiz, F.
  2. Roldán, J.B.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Año de publicación: 2003

Volumen: 94

Número: 1

Páginas: 392-399

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.1577227 GOOGLE SCHOLAR
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