Remote surface roughness scattering in ultrathin-oxide MOSFETs

  1. Gámiz, F.
  2. Godoy, A.
  3. Jiménez-Molinos, F.
  4. Cartujo-Cassinello, P.
  5. Roldán, J.B.
Actas:
European Solid-State Device Research Conference

ISSN: 1930-8876

ISBN: 9780780379992

Año de publicación: 2003

Páginas: 403-406

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/ESSDERC.2003.1256899 GOOGLE SCHOLAR
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