Influence of dopant profiles and traps on the low frequency noise of four gate transistors

  1. Rodríguez, A.L.
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  6. Gómez-Campos, M.
Actas:
AIP Conference Proceedings

ISSN: 0094-243X,  1551-7616

ISBN: 9780735406650

Año de publicación: 2009

Volumen: 1129

Páginas: 585-588

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1063/1.3140542 GOOGLE SCHOLAR
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