Contribution of injection in current noise due to generation and recombination of carriers in p-n junctions

  1. Jiménez Tejada, J.A.
  2. Godoy, A.
  3. Palma, A.
  4. Cartujo, P.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Año de publicación: 2001

Volumen: 90

Número: 8

Páginas: 3998-4006

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.1403676 GOOGLE SCHOLAR

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