Influence of the doping profile and deep level trap characteristics on generation-recombination noise

  1. Godoy, A.
  2. Jiménez-Tejada, J.A.
  3. Palma, A.
  4. Cartujo, P.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Año de publicación: 1997

Volumen: 82

Número: 7

Páginas: 3351-3357

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.365647 GOOGLE SCHOLAR
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